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Eine Fachjury des Rats für Formgebung hat das Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB-SEM) ZEISS Crossbeam 550 in der Kategorie „Material and Surfaces“ als Winner des German Design Award 2018 ausgezeichnet.

High-End-Anwendungen in Forschung und Industrie

Nutzer dieses FIB-SEMs untersuchen Nanostrukturen, zum Beispiel in Verbundwerkstoffen, Metallen, Biomaterialien oder Halbleitern, gleichzeitig mit analytischen und bildgebenden Methoden. ZEISS Crossbeam 550 erlaubt es, Proben simultan zu modifizieren und zu beobachten, was in schneller Probenpräparation und hohem Durchsatz resultiert – zum Beispiel bei der Anfertigung von Querschnitten, TEM-Lamellen oder beim Nanopatterning. Das Instrument liefert beste Bildqualität in 2-D und 3-D.

Premiumpreis des deutschen Rat für Formgebung

Der German Design Award ist der internationale Premiumpreis des Rat für Formgebung. Sein Ziel: einzigartige Gestaltungstrends zu entdecken, zu präsentieren und auszuzeichnen. Jährlich werden daher hochkarätige Einreichungen aus dem Produkt- und Kommunikationsdesign prämiert, die alle auf ihre Art wegweisend in der internationalen Designlandschaft sind. Der 2012 initiierte German Design Award zählt zu den anerkanntesten Design-Wettbewerben weltweit und genießt weit über die Fachkreise hinaus hohes Ansehen.

Vergeben wird der German Design Award vom Rat für Formgebung, der deutschen Marken- und Designinstanz. Sein Auftrag von höchster Stelle: das deutsche Designgeschehen zu repräsentieren.

Weitere Informationen zu ZEISS Crossbeam 550

Tags: Elektronen- und Ionenmikroskopie

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