Tag Archives: Korrelative Mikroskopie

ZEISS Crossbeam 550 setzt neue Maßstäbe in der 3D-Analytik und Probenpräparation

Gesteigerte Auflösung und schnellere FIB-Materialbearbeitung für ein Maximum an Effizienz

ZEISS präsentiert eine neue Generation Fokussierter Ionenstrahl Rasterelektronenmikroskope (FIB-REM) für High-End-Anwendungen in Forschung und Industrie. ZEISS Crossbeam 550 zeichnet sich sowohl durch eine signifikant gesteigerte Auflösung für die Bildaufnahme und Materialcharakterisierung als auch eine nochmals erhöhte Geschwindigkeit bei der Probenbearbeitung aus. Nanostrukturen, z.B. in Verbundwerkstoffen, Metallen, Biomaterialien oder Halbleitern können gleichzeitig mit analytischen und bildgebenden Methoden untersucht werden. ZEISS Crossbeam 550 erlaubt es, Proben simultan zu modifizieren und zu beobachten, was in schneller Probenpräparation und hohem Durchsatz resultiert, z.B. bei der Anfertigung von Querschnitten, TEM-Lamellen oder beim Nanopatterning.


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Carl Zeiss 200. Geburtstag und ein Blick nach vorn

Laborpraxis-Interview zur Entwicklung der Mikroskopie mit COO Dr. Markus Weber

170 Jahre Unternehmensgeschichte, 200. Geburtstag von Carl Zeiss – 2016 war ein besonderes Jahr für das Unternehmen. Dass solche Ereignisse auch Anlass für einen Blick in die Zukunft sind, beschreibt COO Dr. Markus Weber im Interview bei Laborpraxis.


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Neue ZEISS Axio Observer Mikroskope für die Lebenswissenschaften

Die offene und flexible inverse Mikroskopie-Plattform für lebende und fixierte Proben

ZEISS präsentiert heute eine neue inverse Mikroskopplattform für Forschung in den Lebenswissenschaften. Die ZEISS Axio Observer Familie bildet mit drei stabilen und modularen Mikroskopstativen die Grundlage für flexible und effiziente Bildverarbeitung. Wissenschaftler erhalten reproduzierbare Resultate und qualitativ hochwertige Bilddaten von einer Vielzahl an Proben unter verschiedenen experimentellen Bedingungen. ZEISS Axio Observer kombiniert bewährte ZEISS Optik mit neuen Automationsoptionen und erlaubt Forschern, selbst anspruchsvollste multimodale Bildaufnahmen von lebenden und fixierten Proben durchzuführen.


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Neuartige Werkstoffe Entwickeln und Unsichtbares Sichtbar Machen mit Korrelativer Mikroskopie von ZEISS

Philip Withers, Professor für Werkstoffkunde an der Universität Manchester, schildert seine Erfahrungen und Forschungsergebnisse mit ZEISS Mikroskopen

„Als Materialwissenschaftler habe ich großes Interesse daran, wie durch Mikrostrukturen hervorragende Eigenschaften von technischen Werkstoffen erzielt werden können“, erklärt Philip Withers. Dass Materialkörner die Bausteine vieler Strukturmaterialien bilden, ist eine Annahme, die bislang nur zweidimensional untersucht werden konnte. Durch die Möglichkeit, die mikrostrukturelle Evolution von Materialien jedoch dreidimensional und über Längenskalen hinweg zu visualisieren, können Leistungsfähigkeit und Schädigungsaspekte in Werkstoffen schneller verstanden werden. Withers ergänzt: „Sobald wir den Zusammenhang zwischen Mikrostruktur und Materialeigenschaft begreifen, können wir sicherere und leistungsfähigere Werkstoffe entwickeln.“


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Neue Version der ZEISS Mikroskopie-Software ZEN ab sofort verfügbar

Windows 10 Kompatibilität für ZEN lite und GPU-beschleunigte Dekonvolution als Hauptneuerungen

ZEISS Microscopy gibt die Verfügbarkeit der Bildverarbeitungssoftware ZEN 2.3 für Mikroskopsysteme bekannt. Die neueste Version der beliebten und einfach zu benutzenden Mikroskopiesoftware beinhaltet signifikante Neuerungen für die Bildaufnahme mit ZEISS Forschungsmikroskopen. ZEN 2.3 bringt unter anderem neue Funktionen und Verbesserungen für ZEISS Axiocam Mikroskopkameras, ZEISS LSM 8 Konfokalmikroskope, und ZEISS Axio Scan.Z1 Slidescanner-Systeme.

 


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Bericht von der #EMBL3D-Konferenz „Von 3D-Lichtmikroskopie zu 3D-Elektronenmikroskopie“

ZEISS und EMBL luden 160 Forscher nach Heidelberg ein, um über die neuesten Trends und Anwendungen bei der korrelativen Mikroskopie in 3D zu diskutieren.

Im März luden ZEISS und EMBL 160 Forscher nach Heidelberg ein, um über die neuesten Anwendungen bei der korrelativen Mikroskopie in 3D zu diskutieren. Das Ziel des #EMBL3D-Symposiums war nicht nur, über die aktuellen Entwicklungen auf diesem Gebiet zu informieren, sondern auch, Personen aus verschiedenen Forschungsfeldern zusammenzubringen. Experten wie Neulinge erhielten die Möglichkeit, ihre Erfahrungen und Ansichten zu den aktuellen Methoden und Tools auszutauschen und über Möglichkeiten zu sprechen, die diese aufkommenden Zukunftstechnologien mit sich bringen.


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RISE Korrelative Raman-REM-Mikroskopie jetzt mit ZEISS Elektronenmikroskopen

Die preisgekrönte, von WITec entwickelte RISE-Technologie für korrelative Raman-Elektronenmikroskopie für ZEISS MERLIN Rasterelektronenmikroskope erhältlich

Das neue Hybridsystem ist eine gemeinsame Entwicklung der beiden deutschen Mikroskophersteller, ausgewiesene Experten in Sachen Raman-Spektroskopie und Ultrustrukturanalyse. Dieses Gerät mit hochwertigen, ausgereiften Systemkomponenten kann für Forschung und Entwicklung in den Bereichen Nanotechnologie, Lebens- und Geowissenschaften, Pharmazie, Materialforschung etc. von Nutzen sein. Das erste WITec-ZEISS-System wird derzeit bei einer der größten Forschungseinrichtungen Südkoreas installiert.

 


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Elektronenmikroskopie in den Biowissenschaften – Workshops 2016

ZEISS Workshops & Trainings
ZEISS Workshops & Trainings

Die biomedizinische Forschung nutzt zunehmend die umfangreichen Möglichkeiten der Rasterelektronenmikroskopie (REM). Neue Geräte mit höherer Auflösung, sensitiveren Detektoren und schnellerer Bildaufnahme erschließen neue rasterelektronenmikroskopische Applikationen. Insbesondere für Fragestellungen, bei denen die 3D-Ultrastruktur großer Proben im Mittelpunkt des Interesses steht, werden REM-basierte Methoden eingesetzt.

Als Hersteller von Licht-, Laser Scanning- , Röntgen- und Elektronenmikroskopsystemen bietet ZEISS verschiedenste Verfahren zur Probenuntersuchung. Die Korrelation der mit verschiedenen Methoden gewonnenen Bilder gewinnt an Bedeutung.

Mit unserer Vortragsreihe möchten wir Sie umfassend zu diesen Themen informieren und Ihnen unsere Lösungen vorstellen. Wir laden Sie hierzu herzlich ein und freuen uns auf interessante und anregende Gespräche.

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