RISE Mikroskopie von WITec jetzt mit Rasterelektronenmikroskop ZEISS Sigma 300
Schnellere und einfachere Messungen
Korrelatives Raman-SEM Imaging (kurz RISE Mikroskopie) ist jetzt mit einem weiteren Elektronenmikroskop möglich, dem ZEISS Sigma 300, einem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM). Dieses Produkt besteht aus ZEISS Sigma 300 mit unveränderter Vakuumkammer und einem voll ausgerüsteten konfokalem Raman-Mikroskop mit Spektrometer. WITec und ZEISS haben dieses System gemeinsam entwickelt, um ein vollintegriertes Instrument als OEM Produkt über ZEISS anbieten zu können. Damit haben Forscher und Anwender noch mehr Optionen zur chemisch-spektroskopischen und strukturellen Analyse.