Tag Archives: Elektronen- und Ionenmikroskopie

RISE Mikroskopie von WITec jetzt mit Rasterelektronenmikroskop ZEISS Sigma 300

Schnellere und einfachere Messungen

Korrelatives Raman-SEM Imaging (kurz RISE Mikroskopie) ist jetzt mit einem weiteren Elektronenmikroskop möglich, dem ZEISS Sigma 300, einem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM). Dieses Produkt besteht aus ZEISS Sigma 300 mit unveränderter Vakuumkammer und einem voll ausgerüsteten konfokalem Raman-Mikroskop mit Spektrometer. WITec und ZEISS haben dieses System gemeinsam entwickelt, um ein vollintegriertes Instrument als OEM Produkt über ZEISS anbieten zu können. Damit haben Forscher und Anwender noch mehr Optionen zur chemisch-spektroskopischen und strukturellen Analyse.


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ZEISS Microscopy Customer Center weltweit

Der Kunde steht im Mittelpunkt

Asien, Amerika und Europa: Acht ZEISS Microscopy Customer Center auf der ganzen Welt bieten den Kunden einen perfekten Einblick in das Microscopy-Portfolio, das von Licht- über Elektronen- und Ionen- bis hin zu Röntgenmikroskopen reicht. Mehr als 150 Kundendemonstrationen werden weltweit pro Monat durchgeführt. Zusätzlich kommen rund 50 Kunden jeden Monat zu Schulungen, Anwendertreffen und Workshops.


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ZEISS eröffnet neues Mikroskopie-Kundenzentrum

Korrelative Mikroskopie und moderne 3D-Mikroskopie erleben

ZEISS eröffnete am 24. April 2017 das neue ZEISS Microscopy Customer Center Europe am Standort Oberkochen. Es ist das größte Kundenzentrum von ZEISS, das sowohl Licht- als auch Elektronen- und Röntgenmikroskopie in einem Zentrum bietet: Hier können Anwender aus Industrie und Wissenschaft korrelative Workflows zwischen den unterschiedlichen Mikroskopie-Technologien ausprobieren sowie moderne 3D-Mikroskopie kennenlernen.


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ZEISS Crossbeam 550 setzt neue Maßstäbe in der 3D-Analytik und Probenpräparation

Gesteigerte Auflösung und schnellere FIB-Materialbearbeitung für ein Maximum an Effizienz

ZEISS präsentiert eine neue Generation Fokussierter Ionenstrahl Rasterelektronenmikroskope (FIB-REM) für High-End-Anwendungen in Forschung und Industrie. ZEISS Crossbeam 550 zeichnet sich sowohl durch eine signifikant gesteigerte Auflösung für die Bildaufnahme und Materialcharakterisierung als auch eine nochmals erhöhte Geschwindigkeit bei der Probenbearbeitung aus. Nanostrukturen, z.B. in Verbundwerkstoffen, Metallen, Biomaterialien oder Halbleitern können gleichzeitig mit analytischen und bildgebenden Methoden untersucht werden. ZEISS Crossbeam 550 erlaubt es, Proben simultan zu modifizieren und zu beobachten, was in schneller Probenpräparation und hohem Durchsatz resultiert, z.B. bei der Anfertigung von Querschnitten, TEM-Lamellen oder beim Nanopatterning.


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Carl Zeiss 200. Geburtstag und ein Blick nach vorn

Laborpraxis-Interview zur Entwicklung der Mikroskopie mit COO Dr. Markus Weber

170 Jahre Unternehmensgeschichte, 200. Geburtstag von Carl Zeiss – 2016 war ein besonderes Jahr für das Unternehmen. Dass solche Ereignisse auch Anlass für einen Blick in die Zukunft sind, beschreibt COO Dr. Markus Weber im Interview bei Laborpraxis.


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Neuartige Werkstoffe Entwickeln und Unsichtbares Sichtbar Machen mit Korrelativer Mikroskopie von ZEISS

Philip Withers, Professor für Werkstoffkunde an der Universität Manchester, schildert seine Erfahrungen und Forschungsergebnisse mit ZEISS Mikroskopen

„Als Materialwissenschaftler habe ich großes Interesse daran, wie durch Mikrostrukturen hervorragende Eigenschaften von technischen Werkstoffen erzielt werden können“, erklärt Philip Withers. Dass Materialkörner die Bausteine vieler Strukturmaterialien bilden, ist eine Annahme, die bislang nur zweidimensional untersucht werden konnte. Durch die Möglichkeit, die mikrostrukturelle Evolution von Materialien jedoch dreidimensional und über Längenskalen hinweg zu visualisieren, können Leistungsfähigkeit und Schädigungsaspekte in Werkstoffen schneller verstanden werden. Withers ergänzt: „Sobald wir den Zusammenhang zwischen Mikrostruktur und Materialeigenschaft begreifen, können wir sicherere und leistungsfähigere Werkstoffe entwickeln.“


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Hochschule Aalen demonstriert Anwendungen und Perspektiven skalenübergreifender Materialmikroskopie

2. Aalener Materialmikroskopietag am Institut für Materialforschung (IMFAA) ein voller Erfolg für alle Teilnehmer

Das Institut für Materialforschung (IMFAA) an der Hochschule Aalen veranstaltete am Donnerstag, den 14. Juli 2016, nach einer sehr gelungenen Auftaktveranstaltung vor drei Jahren nun den 2. Aalener Materialmikroskopietag (A²MMT).


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Virtual Reality wird Realität in der Mikroskopie

ZEISS und arivis ermöglichen erstmals immersive Mikroskopie für Biowissenschaften und Materialkunde

Virtual Reality Lösungen gelten als wichtige Treiber zukünftiger technologischer Entwicklungen. In enger Zusammenarbeit mit der arivis AG bietet ZEISS seinen Kunden ab sofort eine einzigartige Virtual Reality Anwendung in der Mikroskopie.


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Bericht von der #EMBL3D-Konferenz „Von 3D-Lichtmikroskopie zu 3D-Elektronenmikroskopie“

ZEISS und EMBL luden 160 Forscher nach Heidelberg ein, um über die neuesten Trends und Anwendungen bei der korrelativen Mikroskopie in 3D zu diskutieren.

Im März luden ZEISS und EMBL 160 Forscher nach Heidelberg ein, um über die neuesten Anwendungen bei der korrelativen Mikroskopie in 3D zu diskutieren. Das Ziel des #EMBL3D-Symposiums war nicht nur, über die aktuellen Entwicklungen auf diesem Gebiet zu informieren, sondern auch, Personen aus verschiedenen Forschungsfeldern zusammenzubringen. Experten wie Neulinge erhielten die Möglichkeit, ihre Erfahrungen und Ansichten zu den aktuellen Methoden und Tools auszutauschen und über Möglichkeiten zu sprechen, die diese aufkommenden Zukunftstechnologien mit sich bringen.


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RISE Korrelative Raman-REM-Mikroskopie jetzt mit ZEISS Elektronenmikroskopen

Die preisgekrönte, von WITec entwickelte RISE-Technologie für korrelative Raman-Elektronenmikroskopie für ZEISS MERLIN Rasterelektronenmikroskope erhältlich

Das neue Hybridsystem ist eine gemeinsame Entwicklung der beiden deutschen Mikroskophersteller, ausgewiesene Experten in Sachen Raman-Spektroskopie und Ultrustrukturanalyse. Dieses Gerät mit hochwertigen, ausgereiften Systemkomponenten kann für Forschung und Entwicklung in den Bereichen Nanotechnologie, Lebens- und Geowissenschaften, Pharmazie, Materialforschung etc. von Nutzen sein. Das erste WITec-ZEISS-System wird derzeit bei einer der größten Forschungseinrichtungen Südkoreas installiert.

 


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