Tag Archives: Elektronen- und Ionenmikroskopie

Carl Zeiss 200. Geburtstag und ein Blick nach vorn

Laborpraxis-Interview zur Entwicklung der Mikroskopie mit COO Dr. Markus Weber

170 Jahre Unternehmensgeschichte, 200. Geburtstag von Carl Zeiss – 2016 war ein besonderes Jahr für das Unternehmen. Dass solche Ereignisse auch Anlass für einen Blick in die Zukunft sind, beschreibt COO Dr. Markus Weber im Interview bei Laborpraxis.


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Neuartige Werkstoffe Entwickeln und Unsichtbares Sichtbar Machen mit Korrelativer Mikroskopie von ZEISS

Philip Withers, Professor für Werkstoffkunde an der Universität Manchester, schildert seine Erfahrungen und Forschungsergebnisse mit ZEISS Mikroskopen

„Als Materialwissenschaftler habe ich großes Interesse daran, wie durch Mikrostrukturen hervorragende Eigenschaften von technischen Werkstoffen erzielt werden können“, erklärt Philip Withers. Dass Materialkörner die Bausteine vieler Strukturmaterialien bilden, ist eine Annahme, die bislang nur zweidimensional untersucht werden konnte. Durch die Möglichkeit, die mikrostrukturelle Evolution von Materialien jedoch dreidimensional und über Längenskalen hinweg zu visualisieren, können Leistungsfähigkeit und Schädigungsaspekte in Werkstoffen schneller verstanden werden. Withers ergänzt: „Sobald wir den Zusammenhang zwischen Mikrostruktur und Materialeigenschaft begreifen, können wir sicherere und leistungsfähigere Werkstoffe entwickeln.“


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Hochschule Aalen demonstriert Anwendungen und Perspektiven skalenübergreifender Materialmikroskopie

2. Aalener Materialmikroskopietag am Institut für Materialforschung (IMFAA) ein voller Erfolg für alle Teilnehmer

Das Institut für Materialforschung (IMFAA) an der Hochschule Aalen veranstaltete am Donnerstag, den 14. Juli 2016, nach einer sehr gelungenen Auftaktveranstaltung vor drei Jahren nun den 2. Aalener Materialmikroskopietag (A²MMT).


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Virtual Reality wird Realität in der Mikroskopie

ZEISS und arivis ermöglichen erstmals immersive Mikroskopie für Biowissenschaften und Materialkunde

Virtual Reality Lösungen gelten als wichtige Treiber zukünftiger technologischer Entwicklungen. In enger Zusammenarbeit mit der arivis AG bietet ZEISS seinen Kunden ab sofort eine einzigartige Virtual Reality Anwendung in der Mikroskopie.


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Bericht von der #EMBL3D-Konferenz „Von 3D-Lichtmikroskopie zu 3D-Elektronenmikroskopie“

ZEISS und EMBL luden 160 Forscher nach Heidelberg ein, um über die neuesten Trends und Anwendungen bei der korrelativen Mikroskopie in 3D zu diskutieren.

Im März luden ZEISS und EMBL 160 Forscher nach Heidelberg ein, um über die neuesten Anwendungen bei der korrelativen Mikroskopie in 3D zu diskutieren. Das Ziel des #EMBL3D-Symposiums war nicht nur, über die aktuellen Entwicklungen auf diesem Gebiet zu informieren, sondern auch, Personen aus verschiedenen Forschungsfeldern zusammenzubringen. Experten wie Neulinge erhielten die Möglichkeit, ihre Erfahrungen und Ansichten zu den aktuellen Methoden und Tools auszutauschen und über Möglichkeiten zu sprechen, die diese aufkommenden Zukunftstechnologien mit sich bringen.


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RISE Korrelative Raman-REM-Mikroskopie jetzt mit ZEISS Elektronenmikroskopen

Die preisgekrönte, von WITec entwickelte RISE-Technologie für korrelative Raman-Elektronenmikroskopie für ZEISS MERLIN Rasterelektronenmikroskope erhältlich

Das neue Hybridsystem ist eine gemeinsame Entwicklung der beiden deutschen Mikroskophersteller, ausgewiesene Experten in Sachen Raman-Spektroskopie und Ultrustrukturanalyse. Dieses Gerät mit hochwertigen, ausgereiften Systemkomponenten kann für Forschung und Entwicklung in den Bereichen Nanotechnologie, Lebens- und Geowissenschaften, Pharmazie, Materialforschung etc. von Nutzen sein. Das erste WITec-ZEISS-System wird derzeit bei einer der größten Forschungseinrichtungen Südkoreas installiert.

 


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ZEISS Kursangebot 2016 – Lernen Sie Mikroskopie von den Experten!

Training and Education - Made by ZEISS
Training and Education - Made by ZEISS

Kurse von ZEISS vermitteln Ihnen gleichermaßen theoretischen Hintergrund wie auch praktische Fähigkeiten in vielen Anwendungsbereichen von Biologie, Medizin und Materialwissenschaft. Wir bieten Ihnen Kurse in kleinen Gruppen, mit einem hohen Grad an Interaktivität und praktischem Training an modernsten Systemen. Unser Kurskatalog enthält detaillierte Informationen zu allen Kursen, einschließlich Angaben zu Preisen und Trainingsorten.

Aktuelle Kurse beinhalten Anwendertrainings mit ZEISS Lichtmikroskopen, Elektronenmikroskopen, automatisierten Slidescannern und ZEN Bildverarbeitungssoftware. Unsere Experten zeigen Ihnen, wie Sie in Forschung, Industrie und Ausbildung das Maximum aus Ihrem ZEISS Mikroskop holen.

Unser aktuelles Kursangebot an den deutschen Standorten finden Sie unter www.zeiss.de/kurse - für Details steht Ihnen unser Trainingsteam gerne zur Verfügung, schreiben Sie uns einfach eine Mail an courses.microscopy.de@zeiss.com

Wir freuen uns auf Sie!

English-language course program available at www.zeiss.com/courses or courses.microscopy.de@zeiss.com

 

Von der Nanofabrikation zur Nanofertigung

ZEISS Technology Workshop und User Meeting zum Thema Multi-Ionenstrahl-Anwendungen an der Universität Melbourne

Vom 5. bis 6. Februar 2016 fand im Center for Neural Engineering, Universität Melbourne ein ZEISS Technology Workshop und User Meeting zum Thema Multi-Ionenstrahl-Anwendungen statt. 18 Wissenschaftler aus neun verschiedenen Instituten waren der Einladung von ZEISS gefolgt. Zweck des Workshops war es, Benutzer von ZEISS ORION NanoFab in der Region zusammenzubringen, Kooperationen anzuregen und Erfahrungen der Benutzer mit dem System zu sammeln. Auf diese Weise informierte sich die Community über die Breite der Anwendungen in Nanoimaging, Nanofabrikation und Nanostrukturierung. Alle Teilnehmer hatten dabei Gelegenheit, Erfahrungen und Ideen über neue Anwendungsfelder auszutauschen.


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Elektronenmikroskopie in den Biowissenschaften – Workshops 2016

ZEISS Workshops & Trainings
ZEISS Workshops & Trainings

Die biomedizinische Forschung nutzt zunehmend die umfangreichen Möglichkeiten der Rasterelektronenmikroskopie (REM). Neue Geräte mit höherer Auflösung, sensitiveren Detektoren und schnellerer Bildaufnahme erschließen neue rasterelektronenmikroskopische Applikationen. Insbesondere für Fragestellungen, bei denen die 3D-Ultrastruktur großer Proben im Mittelpunkt des Interesses steht, werden REM-basierte Methoden eingesetzt.

Als Hersteller von Licht-, Laser Scanning- , Röntgen- und Elektronenmikroskopsystemen bietet ZEISS verschiedenste Verfahren zur Probenuntersuchung. Die Korrelation der mit verschiedenen Methoden gewonnenen Bilder gewinnt an Bedeutung.

Mit unserer Vortragsreihe möchten wir Sie umfassend zu diesen Themen informieren und Ihnen unsere Lösungen vorstellen. Wir laden Sie hierzu herzlich ein und freuen uns auf interessante und anregende Gespräche.

Mehr Details, ständig aktualisierte Veranstaltungsorte und Registrierung hier!

Lernen Sie unsere Applikationen kennen mit einem Webinar und frei verfügbaren Publikationen!

ZEISS Batterie Workshop an der RWTH Aachen

ZEISS und das GFE präsentieren führende Mikroskopielösungen für die Batterieforschung

Sie sind ein Batterieforscher und möchten die Kosten reduzieren, Alterungseffekte kontrollieren und die Kapazitäten erhöhen? Dann besuchen  Sie unseren Batterie-Workshop, den wir zusammen mit unserem Partner Prof. Dr. Joachim Mayer und dem GFE (Gemeinschaftslabor für Elektronenmikroskopie) am 17.3. 2016 an der RWTH Aachen anbieten.


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