Tag Archives: Elektronen- und Ionenmikroskopie

Lange Nacht der Wissenschaften in Jena

Am 24. November ist es soweit: Die Lange Nacht der Wissenschaften bietet faszinierende Einblicke in Jenas Wissenschafts- und Forschungslandschaft. Zahlreiche Institute, Forschungseinrichtungen und Unternehmen laden zu Entdeckungen ein. ZEISS ist in diesem Jahr im Universitätsklinikum Jena in Lobeda vertreten.


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Neue Generation des Rasterelektronenmikroskops ZEISS EVO vorgestellt

Modulare Plattform mit intuitiver Bedienung für routinemäßige Untersuchungen und Forschungsanwendungen

ZEISS präsentiert die neue Generation seines bewährten leistungsstarken Rasterelektronenmikroskops (REM): Die neuen Instrumente der ZEISS EVO-Produktfamilie verfügen über diverse Verbesserungen hinsichtlich der Bedienbarkeit, Bildqualität und nahtlosen Integration in multimodale Arbeitsprozesse. Dank der Vielfalt an verfügbaren Optionen können die Geräte der ZEISS EVO-Familie präzise auf die Anforderungen in den Bereichen Biowissenschaft, Materialwissenschaft oder routinemäßige industrielle Qualitätssicherung abgestimmt werden.


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Schnellstes Elektronenmikroskop der Welt unter den TOP 5 Projekten des Deutschen Zukunftspreises 2017

Hirnforschung und Halbleiterindustrie profitieren gleichermaßen von ZEISS MultiSEM

ZEISS MultiSEM ist unter den Top 5 Projekten des Deutschen Zukunftspreises 2017. Der Preis des Bundespräsidenten für Technik und Innovation zeichnet exzellente wissenschaftliche Innovationen aus, die zugleich wirtschaftliches Potenzial entfalten und Arbeitsplätze schaffen. Während im konventionellen Rasterelektronenmikroskop nur ein Elektronenstrahl die Probe erfasst, arbeitet ZEISS MultiSEM als einziges Gerät mit bis zu 91 parallelen Strahlen. Dies resultiert in einer extrem hohen Aufnahmegeschwindigkeit und reduziert die Datenaufnahmezeit für biologische Proben von mehreren Jahren auf wenige Monate. ZEISS MultiSEM ist damit das schnellste Elektronenmikroskop der Welt.


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Metallographie-Fachtagung an der Hochschule Aalen

Wichtiger Kooperationspartner von ZEISS unterstreicht seine Exzellenz beim Erforschen von Materialien

In der letzten Woche sind bei der 51. Metallographie-Tagung der Deutschen Gesellschaft für Materialkunde (DGM) über 300 MetallographInnen und MaterialforscherInnen an der Hochschule Aalen zusammengekommen. Das Institut für Materialforschung (IMFAA) an der Hochschule Aalen unterstützt ZEISS seit nunmehr 17 Jahren darin, Methoden und Einsatzgebiete der Materialmikroskopie technologisch und applikativ voranzutreiben.


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Bund und Land unterstützen das EMBL beim Bau eines Zentrums für hochauflösende Mikroskopie in Heidelberg

Thermo Fisher Scientific, Leica und ZEISS beteiligen sich mit insgesamt zehn Millionen Euro an dem Projekt

In einer feierlichen Zeremonie auf dem Campus des Europäischen Laboratorium für Molekularbiologie (EMBL) in Heidelberg unterzeichneten Vertreter von Bund, Land sowie Industrie- und Stiftungspartnern heute eine Absichtserklärung zur Finanzierung des neuen Zentrums für Licht- und Elektronenmikroskopie. Diese einzigartige Service-Einrichtung für die Lebenswissenschaften bringt modernste Geräte, Technologie-Experten und Datenauswertung zusammen. Sie wird Gastforschern aus aller Welt sowie der Industrie offenstehen. Das EMBL macht mit diesem Nutzerzentrum neue Schlüsseltechnologien zugänglich, die es ermöglichen, die molekularen Grundlagen des Lebens und von Krankheiten zu verstehen.


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RISE Mikroskopie von WITec jetzt mit Rasterelektronenmikroskop ZEISS Sigma 300

Schnellere und einfachere Messungen

Korrelatives Raman-SEM Imaging (kurz RISE Mikroskopie) ist jetzt mit einem weiteren Elektronenmikroskop möglich, dem ZEISS Sigma 300, einem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM). Dieses Produkt besteht aus ZEISS Sigma 300 mit unveränderter Vakuumkammer und einem voll ausgerüsteten konfokalem Raman-Mikroskop mit Spektrometer. WITec und ZEISS haben dieses System gemeinsam entwickelt, um ein vollintegriertes Instrument als OEM Produkt über ZEISS anbieten zu können. Damit haben Forscher und Anwender noch mehr Optionen zur chemisch-spektroskopischen und strukturellen Analyse.


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ZEISS Microscopy Customer Center weltweit

Der Kunde steht im Mittelpunkt

Asien, Amerika und Europa: Acht ZEISS Microscopy Customer Center auf der ganzen Welt bieten den Kunden einen perfekten Einblick in das Microscopy-Portfolio, das von Licht- über Elektronen- und Ionen- bis hin zu Röntgenmikroskopen reicht. Mehr als 150 Kundendemonstrationen werden weltweit pro Monat durchgeführt. Zusätzlich kommen rund 50 Kunden jeden Monat zu Schulungen, Anwendertreffen und Workshops.


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ZEISS eröffnet neues Mikroskopie-Kundenzentrum

Korrelative Mikroskopie und moderne 3D-Mikroskopie erleben

ZEISS eröffnete am 24. April 2017 das neue ZEISS Microscopy Customer Center Europe am Standort Oberkochen. Es ist das größte Kundenzentrum von ZEISS, das sowohl Licht- als auch Elektronen- und Röntgenmikroskopie in einem Zentrum bietet: Hier können Anwender aus Industrie und Wissenschaft korrelative Workflows zwischen den unterschiedlichen Mikroskopie-Technologien ausprobieren sowie moderne 3D-Mikroskopie kennenlernen.


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ZEISS Crossbeam 550 setzt neue Maßstäbe in der 3D-Analytik und Probenpräparation

Gesteigerte Auflösung und schnellere FIB-Materialbearbeitung für ein Maximum an Effizienz

ZEISS präsentiert eine neue Generation Fokussierter Ionenstrahl Rasterelektronenmikroskope (FIB-REM) für High-End-Anwendungen in Forschung und Industrie. ZEISS Crossbeam 550 zeichnet sich sowohl durch eine signifikant gesteigerte Auflösung für die Bildaufnahme und Materialcharakterisierung als auch eine nochmals erhöhte Geschwindigkeit bei der Probenbearbeitung aus. Nanostrukturen, z.B. in Verbundwerkstoffen, Metallen, Biomaterialien oder Halbleitern können gleichzeitig mit analytischen und bildgebenden Methoden untersucht werden. ZEISS Crossbeam 550 erlaubt es, Proben simultan zu modifizieren und zu beobachten, was in schneller Probenpräparation und hohem Durchsatz resultiert, z.B. bei der Anfertigung von Querschnitten, TEM-Lamellen oder beim Nanopatterning.


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