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RISE Korrelative Raman-REM-Mikroskopie jetzt mit ZEISS Elektronenmikroskopen

Die preisgekrönte, von WITec entwickelte RISE-Technologie für korrelative Raman-Elektronenmikroskopie für ZEISS MERLIN Rasterelektronenmikroskope erhältlich

WITec RISE Mikroskop mit ZEISS MERLIN FE-SEM

WITec RISE Mikroskop mit ZEISS MERLIN FE-SEM

Das neue Hybridsystem ist eine gemeinsame Entwicklung der beiden deutschen Mikroskophersteller, ausgewiesene Experten in Sachen Raman-Spektroskopie und Ultrustrukturanalyse. Dieses Gerät mit hochwertigen, ausgereiften Systemkomponenten kann für Forschung und Entwicklung in den Bereichen Nanotechnologie, Lebens- und Geowissenschaften, Pharmazie, Materialforschung etc. von Nutzen sein. Das erste WITec-ZEISS-System wird derzeit bei einer der größten Forschungseinrichtungen Südkoreas installiert.

Korrelative Mikroskopie bezeichnet die Kombination zweier bildgebender Techniken. RISE-Mikroskopie verbindet konfokale Raman-Mikroskopie und Rasterelektronenmikroskopie (REM), wobei beide Techniken in einem Gerät installiert sind.

Raman-Mikroskopie ist die perfekte Ergänzung zu REM: mittels der markierungs- und zerstörungsfreien Raman-Analyse lassen sich die Moleküle einer Probe identifizieren, während REM die Oberflächenstruktur der Probe darstellt. REM wird zwar häufig mit EDX (Energie-dispersiver Röntgenspektroskopie) kombiniert, doch kann man mit EDX lediglich die Elemente einer Probe identifizieren, nicht aber deren molekularen Verbindungen.

Ziel der Integration beider Technologien in ein Gerät war es, die Messungen zu vereinfachen und zu beschleunigen. Dazu wurden das für die Raman-Mikroskopie erforderliche Objektiv und ein Probentisch in die Vakuumkammer des REM platziert, so dass die Probe während der gesamten Messung im Vakuum bleiben kann. Software-gesteuert wird sie mittels des Tisches zwischen den beiden Messplätzen hin- und her bewegt.

“Wir freuen uns, dass dank der Kooperation mit ZEISS für REM-Spezialisten mehr Optionen zur Verfügung stehen, die vielfältigen Möglichkeiten der Raman-Mikroskopie zu nutzen“, sagt Philippe Ayasse, Produktmanager für RISE-Mikroskopie.

„Wir glauben, dass korrelative RISE-Mikroskopie in vielerlei Hinsicht neue und nützliche Erkenntnisse liefern wird, denn das integrierte Instrument ist gegenüber den einzelnen, obwohl schon hervorragenden Mikroskopen ein bedeutender Fortschritt“, sagt Dr. Olaf Hollricher, Geschäftsführer und Entwicklungsleiter bei WITec.

Das kombinierte System enthält sämtliche Funktionen und Eigenschaften eines ZEISS REM und eines WITec konfokalen Raman-Mikroskops. Beide Techniken liefern hochaufgelöste Bilder. Im Raman-Modus kann eine Fläche von 250 x 250 x 250 µm3 abgebildet werden. Die Software steuert den Wechsel zwischen Raman- und Elektronenmikroskopie, die Umwandlung der Raman-Spektren in Bilder und die Überlagerung der Raman- und REM-Bilder zu einem RISE-Bild. RISE-Mikroskopie vereint Bedienerfreundlichkeit mit hervorragender Bildgebung und ist daher für viele Anwendungsbereiche wie Nanotechnologie, Materialforschung, Lebens- und Geowissenschaften interessant.

Interessiert an korrelativen Mikroskopie-Systemen von ZEISS? Kontaktieren Sie uns!

Mehr Details zu RISE Mikroskopie von WITec – Korrelative Raman-Imaging- und Rasterelektronen-Mikroskopie (Raman-SEM)

 


Posted on May 2, 2016 @ 2:05 pm In Neuigkeiten | No Comments


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