Neues Konfokalmikroskop ZEISS LSM 800 für Materialforschung und Fehleranalyse

Alle essentiellen lichtmikroskopischen Kontrastmethoden und hochpräzise 3D Topographie in einem Instrument vereint

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ZEISS LSM 800 for materials
ZEISS LSM 800 for materials

ZEISS präsentiert das neue konfokale Laser Scanning Mikroskop LSM 800 für Materialanwendungen und Analysen in Forschung und Industrie. ZEISS LSM 800 ermöglicht präzise dreidimensionale Bildaufnahme von Strukturen und Oberflächen im Mikrometer-Maßstab. Die Kombination von konfokaler Fluoreszenzmikroskopie mit weiteren Kontrastmethoden in einem Instrument sorgt für hochpräzise Untersuchungen von Nanomaterialien, Metallen, Polymeren und Halbleitern mit einem Maximum an Information. Das System bietet zudem die exakte Erfassung von 3D Topographie und Untersuchungen von Strukturen im Nanometer-Bereich ohne Oberflächenkontakt.

Die Kombination von ZEISS LSM 800 mit ZEISS Axio Imager, der führenden aufrechten Mikroskopieplattform in der Materialforschung, ermöglicht eine Vielzahl an Hardwarekonfigurationen, beispielsweise bei Objektiven, Mikroskoptischen, und Beleuchtungstechniken. Durch die Verfügbarkeit zahlreicher lichtmikroskopischer Verfahren wie Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisationskontrast und den ZEISS-exklusiven zirkulären differentiellen Interferenzkontrast (C-DIC) in einem Stativ kommen Benutzer schneller zu Ergebnissen.

Kratzer in Glasoberfläche. 3D Topographie mit ZEISS LSM 800 für Materialmikroskopie.
Kratzer in Glasoberfläche. 3D Topographie mit ZEISS LSM 800 für Materialmikroskopie.

ZEISS LSM 800 beinhaltet die neueste Version der ZEN Bildaufnahmesoftware, die mit einer offenen Schnittstelle für Anwendungsentwicklung (OAD) einen Datenaustausch mit etablierter Analyse- und Forschungssoftware gewährleistet. Das Zusammenspiel von ZEISS Optik und Software garantiert höchste Reproduzierbarkeit bei Messungen, und ein Bildaufnahme-Assistent erleichtert die Bedienung und sorgt für standardisierte Aufnahmeparameter. Spezifische Neuentwicklungen für herausfordernde Materialapplikationen, darunter optimierte Scan-Geschwindigkeiten, Topographie-Analyse und Schichtdickenmessung, machen ZEISS LSM 800 zur ersten Wahl für Wissenschaftler und Ingenieure in Forschungs- und Industrielaboren.

Zur Pressemitteilung

Ein Webinar am 19. Mai 2016 erläutert detailliert alle Vorteile von ZEISS LSM 800 für Anwendungen in der Materialforschung und -analyse. Die Registrierung ist ab sofort verfügbar: https://bit.ly/lsm800-mat

Weitere Informationen und Kontakt über die Produktwebseite: www.zeiss.com/lsm800-mat

 

Tags: Konfokalmikroskopie, Lichtmikroskopie

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