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Einweihung des ZEISS Xradia Ultra Röntgenmikroskops

Das Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy (CENEM) der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg freut sich über sein neues Forschungsinstrument

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Das Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg öffnete kürzlich seine Türen im Rahmen der Einweihung seines neuen ZEISS Xradia Ultra Röntgenmikroskops (XRM).

Strahlende Gesichter vor dem neuen ZEISS Röntgenmikroskop Xradia Ultra. Von links nach rechts: Dr. Michael Royeck (DFG), Dr. Michael Rauscher (ZEISS), Prof. Erdmann Spiecker (FAU Erlangen-Nürnberg), Prof. Phil Withers (Universität Manchester), Dr. Lars-Oliver Kautschor (ZEISS)

Nach der Begrüßung durch den Universitätspräsidenten, Prof. Joachim Hornegger, und Dr. Michael Royeck von der Deutschen Forschungsgemeinschaft (DFG) nahm Prof. Phil Withers von der Universität Manchester das Publikum mit auf eine virtuelle Reise durch verschiedene Längenskalen und Modalitäten. Prof. Withers unterstrich die Bedeutung der hochauflösenden Röntgenmikroskopie als ergänzende Bildgebungstechnik und wichtiges Element für die korrelative Mikroskopie, wofür er Beispiele aus dem Bereich bioinspirierte Werkstoffe oder die Untersuchung von Stahlkorrosion anführte. Prof. Erdmann Spiecker, Inhaber des Lehrstuhls für Mikro- und Nanostrukturforschung und Leiter des CENEM, gewährte anschließend einen Einblick in die Forschungsbereiche, die vom neuen ZEISS Xradia Ultra Röntgenmikroskop profitieren. Das Publikum interessierte sich insbesondere für die ersten Ergebnisse zur Anordnung photonischer Kristalle in Schmetterlingsflügeln.

Prof. Erdmann Spiecker, Inhaber des Lehrstuhls für Mikro- und Nanostrukturforschung an der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), eröffnet die Veranstaltung


Posted on November 28, 2017 @ 9:43 am In Neuigkeiten | No Comments


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