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ZEISS Crossbeam 550 setzt neue Maßstäbe in der 3D-Analytik und Probenpräparation

Gesteigerte Auflösung und schnellere FIB-Materialbearbeitung für ein Maximum an Effizienz

ZEISS Crossbeam 550

ZEISS präsentiert eine neue Generation Fokussierter Ionenstrahl Rasterelektronenmikroskope (FIB-REM) für High-End-Anwendungen in Forschung und Industrie. ZEISS Crossbeam 550 zeichnet sich sowohl durch eine signifikant gesteigerte Auflösung für die Bildaufnahme und Materialcharakterisierung als auch eine nochmals erhöhte Geschwindigkeit bei der Probenbearbeitung aus. Nanostrukturen, z.B. in Verbundwerkstoffen, Metallen, Biomaterialien oder Halbleitern können gleichzeitig mit analytischen und bildgebenden Methoden untersucht werden. ZEISS Crossbeam 550 erlaubt es, Proben simultan zu modifizieren und zu beobachten, was in schneller Probenpräparation und hohem Durchsatz resultiert, z.B. bei der Anfertigung von Querschnitten, TEM-Lamellen oder beim Nanopatterning.

ZEISS Crossbeam 550

 

ZEISS Crossbeam 550 liefert beste Bildqualität in 2D und 3D. Der neue Tandem decel-Modus ermöglicht neben der gesteigerten Auflösung eine Maximierung des Bildkontrasts bei niedrigen Landeenergien. Mit der wegweisenden Gemini II Elektronenoptik werden optimale Auflösung bei Niederspannung und gleichzeitig hohem Strahlstrom erreicht. Die FIB-Säule kombiniert den höchsten verfügbaren FIB-Strom von 100 nA mit dem neuen FastMill-Modus. Damit wird eine hochpräzise und noch effizientere Materialbearbeitung bei gleichzeitiger Bildgebung ermöglicht. Der neue Prozess für automatisierte „emission recovery“ erhöht die Bedienerfreundlichkeit und optimiert die FIB-Säule zusätzlich für reproduzierbare Ergebnisse bei Langzeit-Experimenten.

Materialwissenschaftler profitieren mit ZEISS Crossbeam 550 von ausgezeichneten 3D-Analytik-Eigenschaften, besonders dank des ebenfalls neuen, voll integrierten Moduls für 3D EDX Analysen mit ZEISS Atlas 5. In den Lebenswissenschaften überzeugt ZEISS Crossbeam 550 mit einer erhöhten Auflösung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen und einer hervorragenden Langzeitstabilität für 3D-Tomographie. Zudem kann ZEISS Crossbeam 550 optimal in korrelative Workflows integriert und mit Licht-, Röntgen- und Ionenstrahlmikroskopie kombiniert werden.

Kanäle zur Nanofluidics-Forschung, angefertigt mit ZEISS Crossbeam 550 L in einem Silikon-Masterstempel. Mit freundlicher Genehmigung von I. Fernández-Cuesta, INF Hamburg, Germany.

ZEISS Crossbeam 550 ersetzt das Vorgängermodell ZEISS Crossbeam 540 und ist erstmals in einer Variante mit großer Probenkammer verfügbar. Ausgewählte Produktfeatures können für ZEISS Crossbeam 540 Besitzer nachgerüstet werden. Ein Webinar, das am 4. Mai 2017 stattfindet, vermittelt Informationen über die Vorteile von ZEISS Crossbeam 550.

Weitere Informationen finden Sie auf unserer Website: www.zeiss.com/crossbeam

Registrieren Sie sich für das ZEISS Crossbeam 550 Launchwebinar:

4. Mai 2017, 9:00 Uhr

4. Mai 2017, 17:00 Uhr

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Posted on March 15, 2017 @ 2:08 pm In Neuigkeiten | No Comments


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