Tag Archives: Röntgenmikroskopie

Materialforschung mit Durchblick

Hochauflösendes ZEISS Röntgenmikroskop für die Friedrich-Alexander Universität Erlangen-Nürnberg

Das Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy (CENEM) der Friedrich-Alexander Universität Erlangen-Nürnberg (FAU) hat den Zuschlag für ein hochauflösendes Röntgenmikroskop von ZEISS erhalten, das den Erlanger Materialforschern ganz neue Dimensionen eröffnet. Mit dem Mikroskop können die Wissenschaftler in Zukunft die 3D-Struktur komplexer Materialien auf der Submikrometerskala detailliert und zerstörungsfrei untersuchen und diese wichtige Information für die gezielte Entwicklung neuer Materialien nutzen.


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Mehr Tempo für die Materialentwicklung: Neuartiges Röntgenmikroskop für Halle

ZEISS Xradia 810 Ultra für die Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg

Der Blick ins Innere von Werkstoffen wird immer wichtiger, um sie leistungsfähiger und effizienter zu machen und neue Materialien mit nie dagewesenen Eigenschaften entwickeln zu können. An der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg (MLU) gibt es dazu künftig noch bessere Möglichkeiten: Die Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) finanziert ein neuartiges Röntgenmikroskop, das Einblicke bis auf die Nanoskala gewährt. Auch Forscher des Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen (IMWS) werden das neue Großgerät nutzen können.


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ZEISS Batterie Workshop an der RWTH Aachen

ZEISS und das GFE präsentieren führende Mikroskopielösungen für die Batterieforschung

Sie sind ein Batterieforscher und möchten die Kosten reduzieren, Alterungseffekte kontrollieren und die Kapazitäten erhöhen? Dann besuchen  Sie unseren Batterie-Workshop, den wir zusammen mit unserem Partner Prof. Dr. Joachim Mayer und dem GFE (Gemeinschaftslabor für Elektronenmikroskopie) am 17.3. 2016 an der RWTH Aachen anbieten.


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Einführung von ZEISS Xradia Versa mit FPX für erweitertes “Scout und Zoom”-Imaging

Erweiterter Funktionsumfang für das vielseitigste 3D Röntgenmikroskop

Die neue ZEISS FPX Erweiterung für 3D-Röntgenmikroskope der Serie ZEISS Xradia Versa 500 ermöglicht Scans von großen Proben mit hohem Durchsatz und herausragender Bildqualität. Zusammen mit den hochauflösenden Röntgenmikroskopen ZEISS Xradia Versa verbessert das neue ZEISS FPX die Imaging-Flexibilität und steigert die Effizienz der Arbeitsprozesse mit einem umfassenden System für die industrielle Entwicklung und wissenschaftliche Forschung.

 


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Frohe Weihnachten und ein erfolgreiches neues Jahr!

ZEISS Microscopy wünscht allen Fans und Kunden eine wundervolle Weihnacht und ein fröhliches, gesundes und erfolgreiches neues Jahr! Genießen Sie die freie Zeit und folgen Sie uns auch in 2016: Wir haben wieder einige Überraschungen, neue Technologien, und natürlich die besten Bilder aus der Welt der Mikroskopie für Sie.

 

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Viel Erfolg in 2016, wir freuen uns auf Sie!