Tag Archives: Korrelative Mikroskopie

ZEISS lädt ein zum Tag der Mikroskopie in Oberkochen

Neueste Mikroskopietechniken und vielfältige Anwendungen stehen im Mittelpunkt

ZEISS veranstaltet am 16. und 17. Mai 2018 den Tag der Mikroskopie im ZEISS Forum und ZEISS Microscopy Customer Centre Europe in Oberkochen. Die internationalen Gäste aus Forschung, Wissenschaft und Industrie erwartet ein vielseitiges Programm mit Vorträgen, Workshops und Diskussionen, das applikative und technologische Einblicke in die Licht-, Elektronen- und Röntgenmikroskopie von ZEISS ermöglicht. Verschiedene Keynotes aus Wissenschaft und Industrie geben zukünftige Ausblicke und demonstrieren den breiten Anwendungsbereich der Mikroskopie.


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Bund und Land unterstützen das EMBL beim Bau eines Zentrums für hochauflösende Mikroskopie in Heidelberg

Thermo Fisher Scientific, Leica und ZEISS beteiligen sich mit insgesamt zehn Millionen Euro an dem Projekt

In einer feierlichen Zeremonie auf dem Campus des Europäischen Laboratorium für Molekularbiologie (EMBL) in Heidelberg unterzeichneten Vertreter von Bund, Land sowie Industrie- und Stiftungspartnern heute eine Absichtserklärung zur Finanzierung des neuen Zentrums für Licht- und Elektronenmikroskopie. Diese einzigartige Service-Einrichtung für die Lebenswissenschaften bringt modernste Geräte, Technologie-Experten und Datenauswertung zusammen. Sie wird Gastforschern aus aller Welt sowie der Industrie offenstehen. Das EMBL macht mit diesem Nutzerzentrum neue Schlüsseltechnologien zugänglich, die es ermöglichen, die molekularen Grundlagen des Lebens und von Krankheiten zu verstehen.


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RISE Mikroskopie von WITec jetzt mit Rasterelektronenmikroskop ZEISS Sigma 300

Schnellere und einfachere Messungen

Korrelatives Raman-SEM Imaging (kurz RISE Mikroskopie) ist jetzt mit einem weiteren Elektronenmikroskop möglich, dem ZEISS Sigma 300, einem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM). Dieses Produkt besteht aus ZEISS Sigma 300 mit unveränderter Vakuumkammer und einem voll ausgerüsteten konfokalem Raman-Mikroskop mit Spektrometer. WITec und ZEISS haben dieses System gemeinsam entwickelt, um ein vollintegriertes Instrument als OEM Produkt über ZEISS anbieten zu können. Damit haben Forscher und Anwender noch mehr Optionen zur chemisch-spektroskopischen und strukturellen Analyse.


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ZEISS Microscopy Customer Center weltweit

Der Kunde steht im Mittelpunkt

Asien, Amerika und Europa: Acht ZEISS Microscopy Customer Center auf der ganzen Welt bieten den Kunden einen perfekten Einblick in das Microscopy-Portfolio, das von Licht- über Elektronen- und Ionen- bis hin zu Röntgenmikroskopen reicht. Mehr als 150 Kundendemonstrationen werden weltweit pro Monat durchgeführt. Zusätzlich kommen rund 50 Kunden jeden Monat zu Schulungen, Anwendertreffen und Workshops.


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ZEISS präsentiert vernetztes Qualitätslabor

Labor-Infrastrukturlösung ZEISS ZEN 2 core verbindet Systeme, Daten und Workflows

ZEISS präsentiert ein vernetztes Labor für Qualitätskontrolle und Qualitätssicherung. Verknüpfte Systeme, Daten und Workflows ermöglichen eine effizientere Zusammenarbeit – auch über Laborgrenzen hinweg.


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ZEISS eröffnet neues Mikroskopie-Kundenzentrum

Korrelative Mikroskopie und moderne 3D-Mikroskopie erleben

ZEISS eröffnete am 24. April 2017 das neue ZEISS Microscopy Customer Center Europe am Standort Oberkochen. Es ist das größte Kundenzentrum von ZEISS, das sowohl Licht- als auch Elektronen- und Röntgenmikroskopie in einem Zentrum bietet: Hier können Anwender aus Industrie und Wissenschaft korrelative Workflows zwischen den unterschiedlichen Mikroskopie-Technologien ausprobieren sowie moderne 3D-Mikroskopie kennenlernen.


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ZEISS Crossbeam 550 setzt neue Maßstäbe in der 3D-Analytik und Probenpräparation

Gesteigerte Auflösung und schnellere FIB-Materialbearbeitung für ein Maximum an Effizienz

ZEISS präsentiert eine neue Generation Fokussierter Ionenstrahl Rasterelektronenmikroskope (FIB-REM) für High-End-Anwendungen in Forschung und Industrie. ZEISS Crossbeam 550 zeichnet sich sowohl durch eine signifikant gesteigerte Auflösung für die Bildaufnahme und Materialcharakterisierung als auch eine nochmals erhöhte Geschwindigkeit bei der Probenbearbeitung aus. Nanostrukturen, z.B. in Verbundwerkstoffen, Metallen, Biomaterialien oder Halbleitern können gleichzeitig mit analytischen und bildgebenden Methoden untersucht werden. ZEISS Crossbeam 550 erlaubt es, Proben simultan zu modifizieren und zu beobachten, was in schneller Probenpräparation und hohem Durchsatz resultiert, z.B. bei der Anfertigung von Querschnitten, TEM-Lamellen oder beim Nanopatterning.


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Carl Zeiss 200. Geburtstag und ein Blick nach vorn

Laborpraxis-Interview zur Entwicklung der Mikroskopie mit COO Dr. Markus Weber

170 Jahre Unternehmensgeschichte, 200. Geburtstag von Carl Zeiss – 2016 war ein besonderes Jahr für das Unternehmen. Dass solche Ereignisse auch Anlass für einen Blick in die Zukunft sind, beschreibt COO Dr. Markus Weber im Interview bei Laborpraxis.


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Neue ZEISS Axio Observer Mikroskope für die Lebenswissenschaften

Die offene und flexible inverse Mikroskopie-Plattform für lebende und fixierte Proben

ZEISS präsentiert heute eine neue inverse Mikroskopplattform für Forschung in den Lebenswissenschaften. Die ZEISS Axio Observer Familie bildet mit drei stabilen und modularen Mikroskopstativen die Grundlage für flexible und effiziente Bildverarbeitung. Wissenschaftler erhalten reproduzierbare Resultate und qualitativ hochwertige Bilddaten von einer Vielzahl an Proben unter verschiedenen experimentellen Bedingungen. ZEISS Axio Observer kombiniert bewährte ZEISS Optik mit neuen Automationsoptionen und erlaubt Forschern, selbst anspruchsvollste multimodale Bildaufnahmen von lebenden und fixierten Proben durchzuführen.


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Neuartige Werkstoffe Entwickeln und Unsichtbares Sichtbar Machen mit Korrelativer Mikroskopie von ZEISS

Philip Withers, Professor für Werkstoffkunde an der Universität Manchester, schildert seine Erfahrungen und Forschungsergebnisse mit ZEISS Mikroskopen

„Als Materialwissenschaftler habe ich großes Interesse daran, wie durch Mikrostrukturen hervorragende Eigenschaften von technischen Werkstoffen erzielt werden können“, erklärt Philip Withers. Dass Materialkörner die Bausteine vieler Strukturmaterialien bilden, ist eine Annahme, die bislang nur zweidimensional untersucht werden konnte. Durch die Möglichkeit, die mikrostrukturelle Evolution von Materialien jedoch dreidimensional und über Längenskalen hinweg zu visualisieren, können Leistungsfähigkeit und Schädigungsaspekte in Werkstoffen schneller verstanden werden. Withers ergänzt: „Sobald wir den Zusammenhang zwischen Mikrostruktur und Materialeigenschaft begreifen, können wir sicherere und leistungsfähigere Werkstoffe entwickeln.“


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