Modulare Plattform mit intuitiver Bedienung für routinemäßige Untersuchungen und Forschungsanwendungen

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ZEISS präsentiert die neue Generation seines bewährten leistungsstarken Rasterelektronenmikroskops (REM): Die neuen Instrumente der ZEISS EVO-Produktfamilie verfügen über diverse Verbesserungen hinsichtlich der Bedienbarkeit, Bildqualität und nahtlosen Integration in multimodale Arbeitsprozesse. Dank der Vielfalt an verfügbaren Optionen können die Geräte der ZEISS EVO-Familie präzise auf die Anforderungen in den Bereichen Biowissenschaft, Materialwissenschaft oder routinemäßige industrielle Qualitätssicherung abgestimmt werden.

ZEISS EVO liefert selbst unter schwierigen Bedingungen hochwertige Daten, z. B. wenn nichtleitende Teile während der industriellen Qualitätssicherung für die Übertragung von einem Instrument zum nächsten unpräpariert bleiben müssen oder Proben wie zu klassifizierende Pollen in ihrem natürlich hydrierten Zustand abgebildet werden sollen. Für diese Anforderungen bietet ZEISS EVO verschiedene Vakuummodi, wie Hochvakuum, variabler Druck und hoher Druck sowie unterschiedliche Detektortechnologien (SE, C2D, C2DX, BSE, EDS). Ein optionaler Lanthanhexaborid-Emitter (LaB6) erzeugt einen helleren Elektronenstrahl für eine bessere Bildauflösung und Rauschunterdrückung.

 

Durch die intuitive, benutzerfreundliche Handhabung ist ZEISS EVO sowohl für geschulte als auch für unerfahrene Mikroskopanwender geeignet. ZEISS SmartSEM Touch ist eine extrem vereinfachte Benutzeroberfläche, die speziell für den gelegentlichen Bediener entwickelt wurde, der mit REMs wenig bis gar keine Erfahrung hat, z. B. in zentralen Mikroskopielabors oder Labors für die industrielle Qualitätssicherung. „Die neue ZEISS SmartSEM Touch-Benutzeroberfläche von ZEISS EVO ist so übersichtlich, dass nicht nur geschulte Mikroskopierer, sondern auch unsere Techniker und Praktikanten ohne REM-Kenntnisse den Umgang in 20 Minuten erlernen können. Die Imaging- und Analysefunktion des Systems sind von großem Vorteil. Die nahtlose Integration in multimodale Arbeitsprozesse macht unsere Arbeit deutlich effizienter“, erzählt Jim Suth, Qualitätsmanager bei ECR Engines. Das in den USA ansässige Unternehmen ist im Bereich Produktion, Forschung und Entwicklung von Hochleistungsmotoren tätig und nutzt ZEISS EVO für die Materialcharakterisierung und Fehleranalyse.

Die REM-Materialcharakterisierung für akademische oder industrielle Zwecke ist in vielen Umgebungen Teil eines Arbeitsprozesses, bei dem Proben mit anderen Imaging- oder Analysetechnologien wie Lichtmikroskopen oder Spektrometern untersucht werden. ZEISS EVO kann als Teil eines halbautomatisierten, multimodalen Arbeitsprozesses konfiguriert werden, da es über Tools verfügt, die interessante Regionen nahtlos wiederfinden und die Integrität von Daten über mehrere Verfahren hinweg sicherstellen. In derartigen Konfigurationen ermöglicht ZEISS EVO eine hochproduktive korrelative Mikroskopie und Analysemethoden, die Benutzern aussagekräftigere Daten und ein tieferes Verständnis ihrer Proben liefern.

Weitere Informationen über die ZEISS EVO Produktfamilie

Tags: Elektronen- und Ionenmikroskopie

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