Bericht von der #EMBL3D-Konferenz „Von 3D-Lichtmikroskopie zu 3D-Elektronenmikroskopie“

ZEISS und EMBL luden 160 Forscher nach Heidelberg ein, um über die neuesten Trends und Anwendungen bei der korrelativen Mikroskopie in 3D zu diskutieren.

Wissen

EMBL-Workshop „Von der 3D-Lichtmikroskopie zur 3D-Elektronenmikroskopie“, gemeinsam organisiert von ZEISS und EMBL Heidelberg, Deutschland, vom 13. bis 16. März 2016

Im März luden ZEISS und EMBL 160 Forscher nach Heidelberg ein, um über die neuesten Anwendungen bei der korrelativen Mikroskopie in 3D zu diskutieren. Das Ziel des #EMBL3D-Symposiums war nicht nur, über die aktuellen Entwicklungen auf diesem Gebiet zu informieren, sondern auch, Personen aus verschiedenen Forschungsfeldern zusammenzubringen. Experten wie Neulinge erhielten die Möglichkeit, ihre Erfahrungen und Ansichten zu den aktuellen Methoden und Tools auszutauschen und über Möglichkeiten zu sprechen, die diese aufkommenden Zukunftstechnologien mit sich bringen.

#EMBL3D-Konferenz mit Peter O’Toole (University of York) und Lois Manton-O’Byrne (SelectScience) Beim Symposium kamen führende Experten aus dem Gebiet der korrelativen Licht- und Elektronenmikroskopie in 3D zusammen. Das Hauptaugenmerk der Veranstaltung lag auf dem automatisierten seriellen Imaging mit dem Rasterelektronenmikroskop. Die Vorträge von Winfried Denk (Max-Planck-Institut für Neurobiologie, Deutschland) und Fred Hamprecht (Interdisziplinäres Zentrum für Wissenschaftliches Rechnen [IWR] und Fakultät für Physik und Astronomie in Heidelberg, Deutschland) thematisierten die neuesten bahnbrechenden Entwicklungen beim automatisierten seriellen Imaging und bei der 3D-Bildanalyse. Zu den eingeladenen Sitzungsleitern gehörten Chris Guerin (VIB Gent, Belgien), Graham Knott (EPFL Lausanne, Schweiz), Anna Kreshuk (IWR und Heidelberg Collaboratory for Image Processing [HCI], Universität Heidelberg, Deutschland), Peter O’Toole (University of York, Großbritannien) und Richard Webb (University of Queensland, Australien). Die Begrüßungsreden hielten Jan Ellenberg (EMBL Heidelberg, Deutschland) und Markus Weber (Mitglied der Geschäftsführung der Carl Zeiss Microscopy GmbH, Deutschland). In zahlreichen Vorträgen eingeladener Gäster und praxisorientierten Workshops ging es um verschiedenste Themen rund um 3D-CLEM, von modernen Methoden bis zu den neuesten biologischen Anwendungen.

Gemeinsam mit unseren Partnern von SelectScience präsentieren wir eine fachbezogene Website, die nicht nur Videointerviews mit Teilnehmern und Aufzeichnungen der Vorlesungen enthält, sondern auch eine Vielzahl von zusätzlichen Materialien und Fachwissen zum Thema korrelative Mikroskopie bietet.

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Unser besonderer Dank gilt unseren wissenschaftlichen Mitarbeitern und den Organisatoren der Konferenz: Yannick Schwab, Nicole Schieber und Diah Yulianti (EMBL Heidelberg, Deutschland), Chris Guerin und Saskia Lippens (VIB Gent, Belgien), Robert Kirmse und Hans-Jürgen Oberdiek (Carl Zeiss Microscopy GmbH, Deutschland).

 

Tags: Airyscan, Elektronen- und Ionenmikroskopie, Konfokalmikroskopie, Korrelative Mikroskopie, Lichtmikroskopie, Röntgenmikroskopie, Software und digitales Imaging

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